Door: Redactie - 15 oktober 2021 |
Wat is Atomic force microscopy? Vaak wordt Atomic force microscopy beschreven als een modaliteit voor beeldvorming bestaande uit een scannende tastmicroscoop, zoals een cantilever (of tip), die tegen een monster wordt gedrukt, en een beeldvormingssysteem, zoals een camera, die momentopnamen van het monster maakt. Dit beeldvormingssysteem is bedoeld om de objecten van belang te identificeren en te herkennen. In de eenvoudigste vorm bestaat een Atomic Force Microscope (AFM) uit een cantilever, een microscopisch kleine draad, de tip, die vaak van goud of platina is gemaakt. Het is mogelijk dat de tip en de cantilever van hetzelfde materiaal zijn gemaakt, bijvoorbeeld dat zij beide een metaal bevatten.
De tip en de cantilever kunnen in contact worden gebracht met een monster, waarbij de tip stationair wordt gehouden, terwijl de doorbuiging van de cantilever met een meetsysteem kan worden bepaald. De Atomic force microscopy (AFM): De scanning probe microscopy (SPM) en het beeldvormingssysteem (b.v. een camera, een videorecorder, enz.) worden gebruikt om het oppervlak van het monster te analyseren. Bron: Het monster wordt in contact gehouden met de punt van de cantilever en, in het geval van een AFM, wordt de punt in contact gehouden met het monster door middel van een lichte kracht.
Bron: ST Indstruments
Een van de toepassingen van AFM is de scanning transmissie elektronenmicroscoop of “STEM”, die gewoonlijk wordt aangeduid als een STEM. Door gebruik te maken van een zeer nauwkeurige monster trap met hoge vergrotingsfactor, een elektronenbron en een collimator, kan men tegelijkertijd transmissie-elektronenmicroscopie (TEM) en FIB-microscopie (focused-ion-beam) uitvoeren. Deze mogelijkheid staat bekend als nano-indentatie, Bron: dat wil zeggen de beeldvorming van een monster met een zeer kleine punt. Een voorbeeld van een elektronenmicroscoop die is ontworpen voor nano-indentatie is de Elektronenmicroscoop in laag en hoog vacuüm op nanoschaal (EMLHV)
Lees ook: